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  電池材料關心的結構、動力學等性能,均與電池材料的組成與微結構密切相關,對電池的綜合性能有復雜的影響。每一項性能可能與材料的多種性質有關,每一類性質也可能影響多項性能,具體問題需要具體分析,沒有特別統一的規律,這給電池的研究帶來了很大的挑戰。準確和全面的理解鋰電池材料的構效關系需要綜合運用多種檢測技術。鋰電檢測系列專題報道第三期,將聚焦“形貌分析”。

  鋰電形貌分析技術手段在此歸結為兩類,一類是傳統意義對材料微納形貌的形貌表征,相關技術手段包括:掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)、X射線顯微鏡(STXM)、掃描探針顯微鏡(SPM)(含原子力顯微鏡AFM)等。另一類是對顆粒粒徑、粒型、比表面等形貌分析,對應技術手段包括:粒度儀、比表面吸附儀等。


黃建宇:原位電鏡在鋰電池研究中的應用

鋰電池在循環過程中電極材料反復嵌鋰和脫鋰會引起其體積反復膨脹和收宿,從而導致電極材料和固體電解質膜的疲勞斷裂。在固態鋰電池中,電極材料的反復膨脹和收宿會導致電極和電解質界面產生裂紋,從而阻礙鋰離子傳導,最終導致電池失效。此外,鋰支晶刺穿固態電解質會導致電池短路而誘導火災。以上基礎力學問題是制約鋰電池發展和應用的瓶頸所在,但由于實驗困難,對這些基礎力學問題的研究還處于初級階段。本研究組在鋰電池納米力學研究領域做出了一些原創性工作。

褚衛國:鋰離子電池正極納米材料及相關表征技術

首先介紹鋰離子電池發展趨勢、典型鋰離子電池正極納米材料以及納米技術提高鋰離子電池電極材料性能的基本原理。通過幾類鋰電正極材料的研究實例說明各種表征方法在鋰電正極材料研究中的作用,并構建結構-性能關系,為發展新型高性能鋰電正極材料提供指導。最后對不同表征方法在鋰電正極材料研究中的角色進行簡單總結。

邵丹:談我國動力電池材料檢測標準現狀

根據調研,國外相關標準主要是圍繞動力電池,而針對電池材料方面還沒有相關國家標準或技術法規出臺,主要電池材料生產技術都壟斷在部分龍頭企業中,所以只有一些企業標準。所以針對進口歐盟的材料而言,就是只有一個RoHS標準……

賽默飛|加州大學圣地亞哥分校-致力于打造未來的電池

在那里的研究人員正在探索使用新材料來實現電池突破。科學家們在進行研究時,利用電子顯微鏡來探索電池材料之間在納米尺度上的相互作用,從而更好地理解電池性能隨時間衰減的原因。

賽默飛|電池的多尺度分析對儲能研究的貢獻

利用電子顯微鏡,X射線斷層掃描,拉曼顯微鏡,X射線衍射,FTIR,,和XPS等技術,研究人員可以從毫米到納米級別對電池進行多尺度的檢測,從而發現電池在充電和放電時性能衰減的原因。

用于電池材料分析的電鏡解決方案

為鋰電行業的正負極、隔膜材料和電解液的表征、合漿和涂覆的過程控制,以及原位充放電過程分析提供了綜合解決方案。提供成套的微觀表征技術解決方案,實現對微納米級結構的粒度、形狀、成分的高精度分析,還能對多種尺寸的材料進行二維及三維的多尺度、高精度分析檢測。該解決方案主要包含Thermo Scientific? HeliScan µCT(多功能計算機斷層掃描系統)、掃描電鏡、鎵離子雙束電鏡、Xe等離子雙束電鏡、透射電鏡等。

用于高能量密度/低溫工作電池電鏡解決方案

為了實現這些目標,全球許多大學和企業都致力于材料科學的創新。其中一個專注于尖端電池研究的中心是加州大學圣地亞哥分校的可持續能源和能源中心 (Sustainable Power and Energy Center)。 在那里的研究人員正在探索使用新材料來實現電池突破。科學家們在進行研究時,利用電子顯微鏡來探索電池材料之間在納米尺度上的相互作用,從而更好地理解電池性能隨時間衰減的原因。

Scios DualBeam 電子顯微鏡

Scios DualBeam FEI Scios? 是一款超高分辨率 DualBeam? 分析系統,能為包括磁性材料在內的眾多樣本提供出色的二維和三維性能。FEI Scios 的創新功能可提高通量、精度與易用性,非常適于學院、政府和工業研究環境中的納米量級研究與分析。

Helios NanoLab "雙束"電子顯微鏡

Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的最佳電子和離子光學系統、配件和軟件,能夠為尖端納米量級研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術前沿研究的科學家,Helios NanoLab 能讓他們拓展研究邊界,為材料研究開辟新的天地。

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鋰電池性能規范標準解析: IEC 61960-3 2017

鋰電池性能規范標準解析: IEC 61960-3 2017,主講人:SGS肖華

原位電鏡在鋰電池研究中的應用

原位電鏡在鋰電池研究中的應用

XPS在鋰電池行業的應用

在本次報告中,我們主要分享XPS在能源電池(包括MEA燃料電池層結構及元素擴散行為、太陽能電池質量評估、儲氫材料中的H含量檢測等)及半導體(包括觸摸屏缺陷檢測、硅晶圓片元素層間擴散、SiO2類柵極介電層材料檢測)領域的廣泛應用。

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